光學(xué)膜厚監(jiān)控儀
HOM2 Series
高精度光學(xué)膜厚監(jiān)控儀
是用于鍍制增透膜及各種光學(xué)濾光片的真空鍍膜系統(tǒng)的膜厚控制。
- 特征
- 高穩(wěn)定性光纖光學(xué)系統(tǒng)和超低噪音電路設(shè)計,實現(xiàn)+0.001%超低噪音
- 測光方式 對應(yīng)透射、反射可選
- 運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過率的極值監(jiān)控能力可達(dá)+0.05%
- 規(guī)格
- 測定區(qū)分 反射式可視域膜厚計 透過式可視域膜厚計 反射式近赤外域膜厚計 透過式近赤外域膜厚計
- 型號 HOM2-R-VIS350 HOM2-T-VIS350 HOM2-R-IR900 HOM2-T-IR900
- 波長帶域 350nm ~ 1100nm 900nm ~ 2400nm
- 光源 鹵素?zé)?鹵素?zé)?/span>
- 電源 AC100V±10%, 50/60Hz