光學(xué)膜厚監(jiān)控儀

HOM2 Series

高精度光學(xué)膜厚監(jiān)控儀

是用于鍍制增透膜及各種光學(xué)濾光片的真空鍍膜系統(tǒng)的膜厚控制。

特征
高穩(wěn)定性光纖光學(xué)系統(tǒng)和超低噪音電路設(shè)計,實現(xiàn)+0.001%超低噪音
測光方式 對應(yīng)透射、反射可選
運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過率的極值監(jiān)控能力可達(dá)+0.05%
規(guī)格
測定區(qū)分 反射式
可視域膜厚計
透過式
可視域膜厚計
反射式
近赤外域膜厚計
透過式
近赤外域膜厚計
型號 HOM2-R-
VIS350
HOM2-T-
VIS350
HOM2-R-
IR900
HOM2-T-
IR900
波長帶域 350nm ~ 1100nm 900nm ~ 2400nm
光源 鹵素?zé)?鹵素?zé)?/span>
電源 AC100V±10%, 50/60Hz